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儀器簡介:
Rise-3002型顆粒圖像分析儀將傳統的測量方法與現代的圖像技術相結合，是一種采用圖像法進行顆粒形貌分析和粒度測量的顆粒分析系統，由光學顯微鏡、數字CCD攝像機和顆粒圖像處理分析軟件組成。該系統通過專用的數字攝像機將顆粒在顯微鏡下的圖像拍攝下來傳輸給電腦，通過專用的顆粒圖像處理分析軟件對圖像進行處理分析，具有直觀、形象、準確和測試范圍寬等特點?？梢杂^察顆粒形貌，也可得到粒度分布等分析結果。
Rise-3002型顆粒圖像分析儀融合了當今先進的圖像處理和分析技術，產品設計符合國際標準ISO-13322-1，可完成幾十項顆粒幾何形態學的參數測量和圖像幾何形狀的測量。軟件同時配備專用的數據報表，可直接按顆粒的粒徑面積、形狀等多類參數，以線性或非線性統計方式繪出分布圖。
技術參數：
1.量程范圍：0.5～3000μm；
2.光學放大倍數：1600倍?？偡糯蟊稊?000倍。
3.顯微鏡：高性能顯微鏡
4.分辨率：0.1μm/像素；
5.準確性及重復性誤差：＜3%；
6.數字攝像機（CCD）：500萬像素；
7.自動分割速度：≤1秒；
8.分割成功率：≥97%；
9.儀器和工控平板電腦一體化設計，避免了儀器軟件以及硬件的長久使用中的丟失，提高了設備使用期和穩定性。
10.搭配專門設計特制的分散器，對于干粉具有絕佳的分散處理效果，并且一鍵式分散，簡單便捷。
軟件功能及報告格式：
1、 可以對圖像進行多種處理。如：影像增強、圖像疊加、局部提取、定倍放大、對比度、亮度調節等幾十種功能
2、 具有圓度、曲線、周長、面積、直徑等幾十種幾何參數的基本測量
3、 可直接按顆粒粒徑的粒徑面積、形狀等多類參數，以線性或非線性統計方式繪出分布圖
數據輸出：
周長分布、面積分布、長徑分布、短徑分布、周長相當徑分布、面積相當徑分布、Feret徑分布、圓度、中間徑（D50）、有效粒徑（D10）、限定粒徑（D60）、D30、D97、個數長度平均徑、個數面積平均徑、個數體積平均徑、長度面積平均徑、長度體積平均徑、面積體積平均徑、不均勻系數、曲率系數。
設備維護：
全面的技術培訓和內容詳盡的使用操作說明書、軟件在線幫助使操作人員能準確操作、解決疑問、排除故障。
應用范圍：
適用于磨料、涂料、非金屬礦、化學試劑、粉塵、填料等各種粉末顆粒的粒度測量、形貌觀察和分析。
檢測報告：
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